Una rassegna di alcuni algoritmi di rilevamento di caratteristiche locali [Italian]

by Tao Sun and John Zhang

Con l'aumento dell'importanza dell'intelligenza artificiale e del riconoscimento facciale nelle applicazioni, le tecniche di rilevamento delle caratteristiche locali vengono applicate sempre pi spesso. Negli ultimi decenni sono stati sviluppati diversi algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali. La scelta dell'algoritmo pi adatto per un'applicazione un compito impegnativo. Questo libro passa in rassegna alcuni algoritmi di rilevamento delle caratteristiche locali e aiuta nella selezione degli algoritmi nelle applicazioni.

• Format: Paperback
• Language: Italian
• ISBN: 6207393619
• ISBN13: 9786207393619
• Release Date: April 2024
• Publisher: Edizioni Sapienza
• Length: 88 Pages
• Weight: 0.31 lbs.
• Dimensions: 0.2" x 6.0" x 9.0"