Trapdichte im Tunneloxid von Ge-Nanoclusterspeichern [German]

By Milena Erenburg

Im Zuge der fortlaufenden Skalierung von Halbleiterbauelementen treten bei EEPROMs Zuverlassigkeitsprobleme auf. Aufgrund von Defekten im Tunneloxid ist besonders bei dunnen Oxiden die Gefahr eines... This description may be from another edition of this product.

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 3639343573
• ISBN13: 9783639343571
• Release Date: April 2011
• Publisher: VDM Verlag
• Length: 96 Pages
• Weight: 0.33 lbs.
• Dimensions: 0.2" x 6.0" x 9.0"