Bachelorarbeit aus dem Jahr 2011 im Fachbereich Elektrotechnik, Note: 1, Hochschule Mittweida (FH) (Elektro- und Informationstechnik), Sprache: Deutsch, Abstract: Diese Bachelorarbeit soll die Grundlage f r hochbeschleunigte Zuverl ssigkeitstests auf Waferebene unter Verwendung von In-Situ-Heizelementen aus polykristallinem Silizium bilden. Nach einer Einf hrung in die Zuverl ssigkeitstheorie wird eine Auswahl an Zuverl ssigkeitstest vorgestellt. Diese sind momentan, durch den Einsatz von Hot-Chuck's, noch recht zeitaufw ndig und verlangen daher nach einer alternativen W rmequelle. Der in dieser Arbeit vorgestellte Ausweg beschreibt einen Polysilizium-Widerstand direkt in der zu beheizenden Struktur. Weiterhin wird die W rmeausbreitung durch thermische Simulationen dargestellt. Am Ende dieser Arbeit wird noch die m gliche Temperaturmessung an solchen Teststrukturen vorgestellt.
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