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Paperback Konstruktion, Bau und Charakterisierung eines Magnet-Proben-Halters für das Elektronen-Mikroskop [German] Book

ISBN: 3838649508

ISBN13: 9783838649504

Konstruktion, Bau Und Charakterisierung Eines Magnet-Proben-Halters Fur Das Elektronen-Mikroskop

Inhaltsangabe: Einleitung: Die Lorentzmikroskopie stellt ein m chtiges Instrument in der Untersuchung magnetischer Strukturen im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) dar. Um Reaktionen magnetischer Nano-Partikel auf externe Felder (Schaltvorg nge) in-situ beobachten zu k nnen, wurde im Rahmen dieser Arbeit ein Spezial-Probenhalter entwickelt. Mit dessen Hilfe k nnen Proben w hrend der Beobachtung reinen in-plane Magnetfeldern im TEM unterzogen werden und so direkte Reaktionen beobachtet werden. Gang der Untersuchung: In der Arbeit wird zuerst eine Einf hrung ber die Funktionsweise eines Elektronenmikroskops gegeben. Anschlie end folgt ein kurzer Ausblick auf die relevante Theorie des Magnetismus. Im zweiten Kapitel wird eine herk mmliche Methode zur Erzeugung von Magnetfeldern im TEM charakterisiert. Danach folgt die Beschreibung von der Herstellung und Charakterisierung des neuen Probenhalters. Zum Schlu sind noch erste interessante Experimente erl utert, die die M glichkeiten des neuen Halters eindrucksvoll pr sentieren. Inhaltsverzeichnis: Inhaltsverzeichnis: Problemstellung7 1.Allgemeine theoretische Grundlagen11 1.1Elektronenoptik11 1.1.1Strahlerzeugung11 1.1.2Strahlengang12 1.1.3Lorentzmikroskopie15 1.1.4Linsenfehler18 1.1.5Stigmatoren23 1.2Magnetismus von Permalloy-Nanoteilchen23 1.2.1Energie-Betrachtungen23 1.2.2Formanisotropie und Stoner-Wohlfarth-Theorie25 1.2.3Dom nen29 1.2.4Hysterese31 2.Kippmethode33 2.1Vermessung der magnetischen Felder im Mikroskop33 2.1.1Kalibrierung des Hallsensors34 2.1.2Messung der Objektivlinsenfelder35 3.Konstruktion und Bau des Probenhalters39 3.1Vor berlegungen39 3.2Konstruktion und Entwicklung40 3.3Herstellung41 4.Charakterisierung des neuen Halters45 4.1Feldmessung45 4.1.1Kalibrierung des Hallsensors45 4.1.2Feldmessung im Probenbereich46 4.1.3Feldabh ngigkeit in Strahlrichtung49 4.2Feldsimulation50 4.3Halterbetrieb52 4.3.1Steuerprogramm53 4.3.2Bildr ckf hrung im Betrieb53 5.Erste Experimente59 5.1Schalten von Dreiecken59

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