Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

by E. Ajith Amerasekera

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausf llen von Halbleiterbauelementen f hren. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausf hrlich beschrieben werden, wird die Zuverl ssigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

• Format: Hardcover
• Language: English
• ISBN: 0471954829
• ISBN13: 9780471954828
• Release Date: July 1997
• Publisher: Wiley
• Length: 360 Pages
• Weight: 1.40 lbs.
• Dimensions: 1.0" x 6.5" x 9.3"