Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie [German]

by Maria F. Ebel, H. J. Dudek, M. Grasserbauer

In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberfl chenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Ma e f r die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und h ufig mit- einander kombiniert werden, n mlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch nicht von einem Autor verfa t, sondern greift auf drei...

• Format: Paperback
• Language: German
• ISBN: 3642701787
• ISBN13: 9783642701788
• Release Date: December 2011
• Publisher: Springer
• Length: 302 Pages
• Weight: 1.11 lbs.
• Dimensions: 0.7" x 6.7" x 9.6"