Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells

By Thomas Kirchartz and Daniel Abou-Ras

Dieses Fachbuch behandelt moderne Verfahren zur Charakterisierung von D?nnschicht-Solarzellen. Diese Verfahren sind f?r die Photovoltaik-Forschung und -Entwicklung relevant, sowohl im wissenschaftlichen Bereich als auch bei Unternehmen. Nach einer Einf?hrung in die D?nnschicht-Photovoltaik erl?utern Experten Methoden f?r die Ger?te- und Materialcharakterisierung, wie die Elektrolumineszenz-Analyse, die Kapazit?tsspektroskopie sowie verschiedene mikroskopische Verfahren. Am Ende des Buches werden Simulationstechniken vorgestellt, die f?r ab-initio-Berechnungen entsprechender Halbleiter und f?r Ger?tesimulationen in bis zu 3 Dimensionen verwendet werden.

Diese neue Auflage baut auf einem bew?hrten Konzept auf und besch?ftigt sich auch mit transienten optoelektronischen Methoden und der Fotostrom-Spektroskopie, der Charakterisierung des D?nnschichtwachstums in Echtzeit und vor Ort sowie mit Simulationen auf Basis der Molekulardynamik.

• Format: Hardcover
• Language: English
• ISBN: 3527339922
• ISBN13: 9783527339921
• Release Date: October 2016
• Publisher: Wiley-Vch
• Length: 760 Pages
• Weight: 4.20 lbs.
• Dimensions: 1.8" x 6.9" x 9.8"